제 5장 검사결과의 판독

 

3-2 주사검출장치 (Scanning Detector)

주사검출장치의 가장 간단한 형태는 광원 , 시험체 이동장치, 검출 및 신호처리장치로 구성되어 있다. 광원을 시험체에 비추고 반사되거나 발하는 빛을 검출하는 방법인데, 시험체를 일정한 속도로 이동시키면 검사면에서 반사되는 빛과 다른 빛이 검출되면 이는 결함지시 또는 이와 유사한 불균일한 상태에서 반사되는 것이므로 이를 검출하여 관찰하는 장치이다.
형광 및 비형광자분탐상검사 모두에 적용할 수 있는데 비형광법을 적용하는 경우, 광원은 주로 레이져(Laser)를 사용한다. 비형광법은 결함위치에서 반사광이 현저히 줄어들기 때문에 검출감도가 비교적 좋다.
사용되는 광원은 파장이 441.6nm(4416Å) 정도인 진한 청색의 He-CD(Helium-cadmium) 레이져가 주로 사용된다. 레이져의 직경은 대략 1mm 정도이며 출력은 15mW인 것을 주로 사용한다.
형광법에서는 자외선등에 Filter를 사용하여 형광을 발할 수 있는 범위의 파장만 통과시키도록 한다. 이 방법에서는 광전검출기를 사용하여 관찰하는데 색채 또는 밝기에 대한 감도는 검사자의 눈에 비해 다소 떨어진다.
이 방법은 영상검출장치에 비해 감도가 떨어지나 가격이 저렴하다.

  다음 중 상대적으로 감도가 우수한 검출장치는?

주사검출장치 영상검출장치