제 2장 자화방법

 
3-4 중앙전도체법(Central Conductor)
직접접촉법과 더불어 시험체에 원형자장을 유도시키는 대표적인 방법 중의 하나이다.  링(Ring)이나 튜브(Tube)와 같이 속이 빈 시험체를 검사할 때에는 시험체 자체를 자화시키는것 보다 시험체 내에 전도체 끼워 축통에 연결하여 전류를 통하게 하면 시험체에 원형자장을 유도시킬 수 있다.
일반적으로 중앙전도체는 구리와 같은 전도체를 사용하는데 중앙전도체에 시험체를 걸어 자화시키면 시험체는 자연히 그림과 같이 전도체의 한쪽으로 치우치게 된다.


그림 . 중앙전도체를 사용하였을 때의 유효자장 범위

이와 같이 시험체가 중앙전도체의 한쪽으로 치우쳐져 있을 때 유효자장의 범위는 내면과 외면에서 중앙전도체 직경(d)의 4배(4d) 정도가 된다.  따라서 지시의 관찰시에는 약 10% 정도씩 겹쳐지게 자화시켜가며 검사해야 한다.  또한 중앙전도체의 직경은 시험체 내경과 관계되는 것이 아니고 적용할 자화전류에 관계되며 아울러 사용하기에 편리한 크기를 정하여 사용한다.
중앙전도체법의 장점으로는
첫째, 시험체에 직접적인 전류의 접촉이 불필요하다.
둘째, 구멍이 있는 시험체 검사에 매우 적합하다.
단점으로는,
첫째, 자화전류에 따른 전도체의 크기가 달라져야 한다.
둘째, 직경이 큰 시험체는 여러번 나누어서 검사를 수행해야 한다.
외부표면에 존재하는 불연속의 검출감도는 내부표면에 비해 감도가 낮아진다.)
내경 100㎜, 외경 110㎜인 튜브형태의 시험체를 직경 15㎜인 중앙전도체를 사용하여 자분탐상검사를 할 때
시험면에서 유효자장의 범위는 대략 어느정도 되는가?

60mm 100mm