제 1장 와전류탐상검사 이론

 

2-3 탐상검사의 기본원리
시험체에 생성된 와전류는 반대방향으로 또 다른 자장을 형성시켜 시험코일의 임피던스 변화를 유발시킨다. 이때 만일 시험체 내에 결함 등이 있으면 시험코일의 임피던스 변화가 다르게 되므로 이것을 측정하여 그 시험체의 결함 등을 찾아낼 수 있으며 또한 임피던스의 변화는 전기전도도 및 투자율 등과 같은 재료의 물성변화에 따라서도 변하므로 그 변화를 측정하여 재료의 물성을 알아낼 수도 있다.
이를 좀더 자세히 알아보면 그림에서와 같이 시험코일에 교류전류 I1이 흐르게 되면 시험코일 주위에 1차 자장 Φ1이 발생한다. 이와같이 형성된 1차 자장에 의해 시험체에는 와전류 i가 유도되며 이 와전류는 다시 자장 Φ1과 반대방향으로 2차 자장 Φ2 를 발생시킨다.
이에 따라 결과적으로 전류 I1은 I2로 변하게 된다. 이때 만일 시험체 내에 크랙과 같은 결함 등이 존재한다면 2차 생성되는 값이 변하게 되고 이에 따라 전류 I2 값도 변하게 된다.
따라서 이 변화값을 측정함으로써 와전류 탐상검사가 가능하게 된다

와전류 탐상시 시험체 내에 결함이 존재할 때 탐상방법은?

시험코일의 임피던스 변화를 측정한다 시험체의 임피던스 변화를 측정한다